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■測量軟件:
輔助對焦
十字線采點
元素測量與預制:點、線、圓、弧、槽、橢圓、矩形、圓環、云線、角度、焦面
元素構造:中心點、交點、中點、線、園、角度、距離、云線等的構造
圖形處理:坐標平移、工件擺正、任意軸擺正,坐標系重置圓形縮放、圖形平移、圖形 選中及刪除等多種處理,測量更方便更快捷,提高測量效率
測量方法多樣(自動尋邊、對比測量、局部放大采點),可以滿足用戶不同需求,大大提高使用的方便性和測量精度。
SPC專業統計分析工具,分析圖形有平均數全距管制圖、直放圖、CPK偏移圖,利用數據統計原理, 有效控制生產,不斷改進品質
測量數據直接發送到AutoCAD中,測量的圖形可以用dxf文檔保存,也可發送到Excel中進行統計分析
計錄用戶程序、編輯命令、教導執行
支持雙顯示器和多種語言界面的切換
用戶可根據測量精度需求選擇多點測量、規定點數測量、放大采點構造、對比方波進 行工件測量。
軟件帶有系統誤差修正功能。目前可對坐標定位系統誤差和垂直度系統誤差進行補償。對坐標定位系統誤差的補償,有線性補償和區段補償兩種方法可供選用。
■儀器規格
1.測量范圍: X:150mm;Y:100mm
2.工作臺尺寸: 355×240mm (玻璃臺面尺寸:210×175mm)
3.數顯分辨率: 0.0005mm
4.儀器的回程誤差: 0.002mm
5.儀器測量準確度: ≤(3+L/25)um(L為被測長度)
6.儀器的質量: 32.5kg
7.儀器外形尺寸: 420×550×600mm
8.輸入電壓: AC220/50Hz ±10%(工作照明電壓5V/LED)
9.光學基本參數
物鏡 |
目鏡 |
總放大倍數 |
工作距離 (mm) |
視場直徑 (mm) |
||
放大倍數 數值孔徑 |
焦距(mm) |
放大倍數 |
焦距 (mm) |
|||
4×/0.1 |
28.8 |
10× |
25 |
40× |
17.50 |
3.40 |
10×/0.25 |
15.4 |
100× |
11.60 |
1.40 |
||
40×0.65 |
4.4 |
400× |
0.66 |
0.35 |
原舊站參數地址:
“用戶的需要就是我們的追求”
上海光學儀器廠(簡稱:上光)坐落在上海楊浦區,現屬上海光學儀器研究所管轄生產型制造公司。上海光學儀器研究所擔負光學儀器新產品研制和開發,曾為上海光學儀器廠研制開發出各類光學儀器產品
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